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Inorganic liquid detection Medical detection Animal residue detection Environmental detection Pesticide residue detection Food detection Matrix detection Engineering Technology detection Steel detection Metal Material detection Detection of polymer materials Physical detection Chemical detection Geological detection Imported reference materials
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Mobile Mall
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ARL Quant’X 荧光能谱仪
应对RoHS指令 ――快速分析
超大Si(Li) 晶体，具有极高的痕量分析的灵敏度，打破lng的检测限壁垒
全数字脉冲处理器技术，死时间达60%， 以及优异的峰背比
高级FP无标样分析软件，进行无标样分析，减少对标样的依赖性
高灵敏电制冷Si(Li) 探测器技术, 仪器免维护和零费用运行
超大样品室，可容纳300mm*(乘号)400mm的样品
全自动校准，自动监测，自动报警系统，完全计算机控制
镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术
ARL Quant’X 荧光能谱仪
具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.
用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至100% 技术参数
